<acronym id="rbec7"></acronym>
從380nm~1050nm的可視光至近紅外實(shí)現(xiàn)大范圍波長(zhǎng)區(qū)域中的分光測(cè)定
奧林巴斯的近紅外顯微分光測(cè)定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長(zhǎng)的分光測(cè)定。
由于其可以很容易地測(cè)定通常的分光光度計(jì)所不能測(cè)定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率，因此十分適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。
使用一臺(tái)即可進(jìn)行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測(cè)定。
測(cè)定反射率 測(cè)定以物鏡聚光φ17～70μm的微小點(diǎn)的反射率。 反射率測(cè)定光路圖
反射率測(cè)定例：鏡片 反射率測(cè)定例：鏡片周邊部位
膜厚測(cè)定的圖例
測(cè)定膜厚
測(cè)定物體顏色
從受臺(tái)下部透過φ2mm的平行光，測(cè)定平面樣品的透過率。（選配）
透過率測(cè)定光路圖
光學(xué)系圖
使用平面光柵及線傳感器進(jìn)行全波長(zhǎng)同時(shí)分光測(cè)定，從而實(shí)現(xiàn)高速測(cè)定。
反射率測(cè)定圖例
*適用于測(cè)定細(xì)小部件、鏡片的反射率
消除背面反射光的原理
定反射率時(shí)，不需要背面防反射處理
可選擇的膜厚測(cè)定方法 根據(jù)測(cè)定的分光反射率數(shù)據(jù)進(jìn)行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據(jù)用途選擇*佳的測(cè)定方法。
峰谷法膜厚解析經(jīng)過信息圖例 峰谷法 這是一種根據(jù)測(cè)定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計(jì)算出膜厚的方法，對(duì)于測(cè)定單層膜是有效的。不需要復(fù)雜的設(shè)置，可以簡(jiǎn)單地求出。
峰谷法膜厚解析經(jīng)過信息圖例
傅里葉轉(zhuǎn)換法膜厚解析經(jīng)過信息圖例
傅里葉轉(zhuǎn)換法
曲線調(diào)整法膜厚解析經(jīng)過信息圖例
曲線調(diào)整法
數(shù)碼相機(jī)鏡片
適用于LED反射鏡、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測(cè)定、膜厚測(cè)定。
適用于平面光學(xué)元件、彩色濾鏡、光學(xué)薄膜等的反射率測(cè)定、膜厚測(cè)定、透過率測(cè)定。
適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測(cè)定。
USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀規(guī)格：
*1 選件組件 *2 本社測(cè)定條件下的測(cè)定 *3 裝配透過率測(cè)定套件與45度反射測(cè)定套件的總重量為33kg。
*4 點(diǎn)徑