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            臺式電子顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII
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            臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級


            我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念,開發(fā)出TM4000系列。

            在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。

            為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用。




            觀察圖像3分鐘??裳杆佾@得所需數(shù)據(jù),并制作報告。


            觀察與分析的靈活性
            自動獲取各類數(shù)據(jù)。快速切換!

            可快速獲得元素分布圖*2


            *1TM4000PlusⅡ的功能。

            *2選配

            使用Camera Navi*的話,就是如此簡單
            Camera Navi圖像讓您輕松找到視野,分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察


            *選配:Camera Navi系統(tǒng)


            操作簡單且快捷
            觀察圖像只需 3 分鐘。
            可快速觀察圖像,并導(dǎo)出測試報告。
            Report Creator可讓您輕松制作報告
            只需選擇圖像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告


            即便是絕緣物樣品,也無需預(yù)處理,就可直接進行觀察。
            “靜電減輕模式”可抑制靜電現(xiàn)象
            對于容易產(chǎn)生靜電的樣品,可使用“靜電減輕模式”,在抑制靜電的狀態(tài)下進行觀察。
            只需用鼠標在軟件上點擊即可切換到“靜電減輕模式”。

            可在低真空的條件下進行多種觀察
            對于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品,可結(jié)合其目的進行觀察。


            可在低真空的條件下進行二次電子像(表面形狀)觀察。
            無需預(yù)處理,也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面
            不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品,還可以在無預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品??煽焖龠M行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
            高感度低真空二次電子檢測器
            采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光,可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外,通過控制該檢測器,來檢測電子照射所產(chǎn)生的光,可以獲得CL信息(UVD-CL:帶有CL信息的圖像)。

            高感度低真空二次電子檢測器的檢測原理


            可支持加速電壓20 kV
            TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
            憑借EDS分析(選配),可進行更高計數(shù)率解析。
            通過加速電壓20 kV,實現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化


            Multi Zigzag(選配)
            可實現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進行SEM觀察。
            搭配自動馬達臺,可實現(xiàn)低倍率,高精度,大范圍的觀察分析。

            EM 樣品臺(選配
            可輕松觀察 STEM 圖像
            與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用,可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
            可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。

            * UVD為 TM4000Plus II上的配件。

            樣品:研磨劑
            加速電壓:20 kV
            觀察信號:(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像
            放大倍率:10000 倍

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